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역격자와 회절분석

등록일 2000.10.08 한글파일한글 (hwp) | 8페이지 | 가격 500원

목차

역격자
X-ray 회절패턴
회절분석

본문내용

회절현상은 X-ray 혹은 중성자비임을 이용하든지 TEM에서처럼 전자비임을 이용하든지 간에 재료의 구조해석에 필수적인 도구이다. 전자현미경에서 회절패턴은 주로 단위포의 형태와 크기, 그리고 시편내 grain의 방향을 분석하는데 이용된다. 결정(crystal)은 단위포(unit cell)이 주기적인 반복 적층에 의하여 형성되고 결정내 원자들이 형성하는 결정면에 의하여 전자비임이 회절될 때, 전자현미경의 back-focal plane에 회절패턴이 형성된다. 회절패턴에 대한 이해는 결정의 구조해석 뿐만 아니라 TEM에서의 여러 가지 imaging techniques을 이용하는데 필요불가결하다.

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